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頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀

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產品名稱: 頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀
產品型號: H8535
產品廠商: 恒奧德
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簡單介紹
    

頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：H8535 1、 用途 用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。

頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 的詳細介紹

頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：H8535

1、 用途
用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。
2、 設備組成
2.1、光脈沖發(fā)生裝置
重復頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶）   脈沖電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2.2、頻源
頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出率＞1W
2.3、放大器和檢波器
頻率響應：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續(xù)可調。
3、測量范圍
KDK-LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ

北京恒奧德儀器儀表有限公司
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